Micro-Epsilon optimise la mesure des bandes pour la production de supraconducteurs

La production de bandes supraconductrices destinées aux applications avancées de transmission d’énergie exige une précision maximale, une grande stabilité des գործընթացs et des technologies de mesure particulièrement respectueuses des matériaux. Micro-Epsilon répond à ces exigences avec l’optoCONTROL 2700-40, un micromètre optique de précision conçu pour la mesure sans contact et en temps réel de bandes métalliques sensibles directement dans le processus de production.

La solution a été spécialement développée pour les applications utilisant des bandes étroites en acier inoxydable revêtues d’alliages de nickel et de couches PVD sensibles. Dans les processus de fabrication typiques, des bandes de 12 mm de large sont découpées en plusieurs segments étroits d’environ 3 ou 4 mm, séparés par des espaces de seulement 0,5 mm.

Mesure sans contact pour matériaux revêtus sensibles
Comme les matériaux traités sont recouverts de couches PVD délicates, la technologie de mesure sans contact représente un avantage essentiel. Les contraintes mécaniques, rayures et déformations des couches sensibles de nickel et de revêtement sont totalement éliminées, ce qui rend cette solution particulièrement adaptée aux processus de fabrication supraconductrice de haute précision.

Avec l’optoCONTROL 2700-40, la bande est mesurée immédiatement après le processus de découpe tout en continuant à avancer dans la ligne de production. L’ensemble de la bande de 12 mm est capturé dans le champ de mesure du micromètre optique.

Mesure précise des segments et des espaces en temps réel
Grâce à la fonction intégrée « multi-segments », le système peut mesurer avec précision à la fois la largeur totale de la bande et celle de chaque segment individuel. Même les espaces extrêmement étroits de seulement 0,5 mm entre les segments sont détectés et surveillés de manière continue et fiable.

Les valeurs mesurées sont transmises en temps réel au système de contrôle de la machine et peuvent être immédiatement utilisées pour la régulation du processus. Cela permet de détecter rapidement les écarts et d’ajuster automatiquement les paramètres de production.

Résolution nanométrique pour une fabrication ultra-précise
Les micromètres optiques de précision de Micro-Epsilon offrent une résolution de 10 nanomètres et une répétabilité ≤ 0,1 µm. Cela permet de détecter avec fiabilité des segments extrêmement étroits ainsi que les plus petites variations géométriques. Avec une fréquence de mesure pouvant atteindre 5 kHz, les capteurs assurent également une surveillance continue des processus de production à haute vitesse.

Selon Micro-Epsilon, la mesure continue en temps réel contribue à réduire les rebuts et à augmenter significativement la fiabilité des processus de découpe et de revêtement exigeants.

Intégration flexible dans les systèmes industriels
L’optoCONTROL 2700-40 a été conçu pour une intégration dans les environnements industriels modernes et prend en charge différentes interfaces de communication industrielle. Parmi elles figurent EtherCAT, PROFINET, Ethernet/IP et les signaux analogiques. La solution peut ainsi être intégrée facilement dans les installations existantes de découpe, de revêtement et de production.

Des exigences croissantes pour la mesure de précision dans la fabrication de supraconducteurs
Les exigences liées à la fabrication des matériaux supraconducteurs continuent d’augmenter, notamment dans les applications liées à la transmission d’énergie, à la recherche scientifique, aux technologies médicales et aux systèmes électriques haute performance.

Comme les bandes supraconductrices reposent sur des structures matérielles très sensibles et des revêtements complexes, les systèmes de mesure optique sans contact deviennent de plus en plus importants.

Les fabricants adoptent de plus en plus des technologies de mesure optique inline afin de surveiller en temps réel la qualité de production, l’utilisation des matériaux et la stabilité des processus.

Contexte supplémentaire : métrologie industrielle et benchmarking concurrentiel non inclus dans l’annonce originale
Sur le marché de la métrologie industrielle de haute précision, Micro-Epsilon est en concurrence avec des entreprises telles que Keyence, Sick, Cognex, Omron et Panasonic Industry. Les principaux critères concurrentiels incluent la précision de mesure, la vitesse, les capacités d’intégration, la robustesse et la possibilité d’effectuer des contrôles qualité sans contact sur des matériaux sensibles.

La demande de systèmes de mesure inline haute résolution continue de croître, notamment dans les secteurs de la production de batteries, des semi-conducteurs, des revêtements de précision et des technologies supraconductrices.

La solution présentée par Micro-Epsilon se distingue principalement par la combinaison d’une résolution nanométrique, d’un contrôle de processus en temps réel, d’une mesure sans contact et d’une intégration industrielle flexible pour des environnements de fabrication ultra-précis.

Édité par Maria Brueva, rédactrice d’Induportals – adapté par IA.

www.micro-epsilon.com