Le testeur de radômes automobiles de Rohde & Schwarz mesure les réflexions sur les matériaux avec une plus grande précision

Rohde & Schwarz a amélioré son testeur de la qualité des radômes automobiles de la gamme R&S QAR. Cette solution sur mesure est conçue pour le test d'intégration des radars afin d'analyser et d'évaluer la compatibilité des radars au sein des radômes et des pare-chocs. Grâce au nouveau logiciel de mesure R&S QAR-K50, les équipementiers et les fournisseurs de premier rang peuvent réaliser des mesures non destructives et en deux dimensions très proches de celles effectuées avec un analyseur de réseau vectoriel (VNA) dans une configuration quasi-optique (QO). La solution R&S QAR se distingue en outre par son fonctionnement intuitif.

Le système d'imagerie R&S QAR exploite les ondes millimétriques pour réaliser les essais et la validation des matériaux de radôme et de pare-chocs. Par ses performances exceptionnelles, sa vitesse, sa qualité et son fonctionnement intuitif, il constitue l'outil idéal à toutes les phases de développement, de validation et de production du matériau constituant les radômes et lors du processus d'intégration de radars opérant sur une bande de fréquences allant de 76 GHz à 81 GHz.

Une haute résolution spatiale est atteinte au prix d'une plus grande dispersion en termes d'angles d'incidence. Un capteur radar typique dispose en effet d’un champ de vision de +/-10° par exemple pour les radar longue portée, et de +/-60° pour les radars courte portée. S’appuyant sur les techniques de caractérisation des matériaux, les paramètres de réflexion des radômes, mesurés à l'aide d’un analyseur de réseau vectoriel, sont principalement déterminés pour des angles incidents perpendiculaires. L'option logicielle R&S QAR-K50 permet de prendre en compte cette problématique.

La comparaison des résultats obtenus avec le système R&S QAR avec ceux mesurés avec un analyseur de réseau vectoriel (VNA) standard dans une configuration quasi-optique (QO) permet de constater et d’expliquer certains écarts de mesure grâce à la plus grande ouverture angulaire du système R&S QAR.

C'est sur ce point que l’option logicielle R&S QAR-K50 fait toute la différence. Elle détecte automatiquement le point de réflexion maximal de l'échantillon de matériau et calcule la valeur moyenne sur la zone de test. Le résultat de la mesure, correspondant à la valeur moyenne de la zone de réflexion, est obtenu en moins de 7 secondes. Cette valeur est en parfaite adéquation avec les résultats des mesures des coefficients de réflexion S11 et S22 obtenues avec un analyseur de réseau vectoriel.

Les mesures effectuées avec l’analyseur de réseau vectoriel en configuration QO au cours de la phase R&D peuvent désormais être directement comparées aux mesures fournies par le système R&S QAR. L’utilisation d’une technique d'imagerie par micro-ondes avec une ouverture d'antenne plus petite est plus adaptée aux environnements de production qu’un analyseur de réseau vectoriel et réduit la sensibilité du dispositif de mesure aux erreurs de positionnement. Le logiciel R&S QAR-K50 détecte automatiquement la zone de mesure appropriée et alerte visuellement l'opérateur d’un éventuel positionnement des échantillons hors des tolérances. Le système R&S QAR combine maintenant ses capacités d’imagerie haute résolution pour l'analyse d'homogénéité (logiciel R&S QAR-K10) avec des outils de mesure de réflexion robuste et facile d’emploi. Les valeurs mesurées avec l'option logicielle R&S QAR-K50 sont directement comparables aux résultats fournis par les analyseurs de réseau vectoriels dans des configurations QO.

L'option logicielle R&S QAR-K50 permettant l’amélioration des mesures de réflexion est désormais disponible auprès de Rohde & Schwarz. Elle peut être installée sur tous les instruments exploitant le firmware le plus récent opérant sous Windows 10 par la simple activation d’une clé logicielle.

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