Rohde & Schwarz annonce une solution de test de caractérisation de puces sur wafers

Rohde & Schwarz propose désormais une solution de test pour la caractérisation de l'ensemble des performances RF d'un objet sous test sur plaquette semi-conductrice (wafer). Cette solution est composée de l'analyseur de réseau vectoriel hautes performances de la gamme R&S ZNA de Rohde & Schwarz et des stations de test sous pointe d'avant garde de FormFactor. Ainsi, les fabricants de semi-conducteurs peuvent caractériser de façon fiable et reproductible les puces électroniques sur wafer durant les phases de développement, de qualification et de production.

L'analyseur de réseau vectoriel R&S ZNA, combiné à la plateforme de test SUMMIT200 de FormFactor effectue des mesures sur wafers. ©FormFactor

Les concepteurs doivent s'assurer que les frontaux RF de communication 5G présentent les capacités RF appropriées en termes de couverture de fréquence et de niveau de puissance délivrée tout en optimisant leur efficacité énergétique. Ce processus exige l'examen approfondi de la conception RF. Afin de la valider le plus en amont possible, il est nécessaire d'évaluer les performances et les capacités RF au niveau du wafer. La caractérisation d'un objet sous test sur wafer nécessite l'utilisation d'un système de mesure comprenant un analyseur de réseau vectoriel (VNA), une station de test, des sondes RF, des câbles ou des adaptateurs, une méthode d'étalonnage dédiée ainsi que des substrats d'étalonnage spécifiques à l'objet sous test ou à l'application.

L'analyseur de réseau vectoriel haut de gamme R&S ZNA de Rohde & Schwarz permet d'effectuer ces indispensables mesures. Cet analyseur permet de caractériser l'ensemble des paramètres de qualification RF au niveau des câbles coaxiaux et des guides d'ondes, ainsi que des extenseurs de fréquence opérant sur des plages allant au-delà des 67 GHz. FormFactor fournit les solutions d'interconnexion des wafers avec les systèmes de sondes manuels, semi-automatiques et complètement automatisés. L'entreprise propose également des systèmes de compensation thermique, des sondes haute fréquence, des positionneurs de sondes et des outils d'étalonnage. L'étalonnage de l'ensemble du système de test, y compris l'analyseur R&S ZNA, est entièrement pris en charge par le logiciel d'étalonnage WinCal XE de FormFactor.

Cette configuration de test entièrement calibrée permet à l'utilisateur d'accéder à l'ensemble des capacités de test de l'analyseur R&S ZNA. Les tests génériques de paramètres S permettent de caractériser les filtres et les dispositifs actifs, tandis que les tests de distorsion, de gain et d'intermodulation peuvent également être réalisés pour qualifier les amplificateurs de puissance. La solution proposée effectue également des mesures de translation de fréquence pour les mélangeurs en caractérisant la phase sur l'ensemble de la bande passante du dispositif. L'installation de test est entièrement calibrée et les données de calibration sont appliquées directement à l'analyseur de réseau vectoriel. Ce qui permet d'obtenir tous les résultats directement à partir de l'analyseur de réseau vectoriel sans aucun post-traitement. Les extenseurs de fréquence de Rohde & Schwarz permettent de couvrir la gamme des fréquences sub-THz telles que la bande D, sur laquelle se focalisent actuellement les recherches dans le domaine de la 6G. Les extenseurs seront intégrés à la station de test pour garantir la plus courte longueur de câblage et ainsi offrir une gamme dynamique optimale tout en évitant les pertes dues au câblage des pointes de sonde.

Pour plus d'informations sur la qualification des caractéristiques RF au niveau du wafer et sur la manière dont les solutions de FormFactor et de Rohde & Schwarz fonctionnent conjointement, lisez la note d'application : https://www.rohde-schwarz.com/_56279-1241099.html

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