Rohde & Schwarz organise le RF Testing Innovations Forum 2025 pour les ingénieurs RF
Durant deux jours, des experts du secteur partageront en ligne leur savoir-faire RF avec les ingénieurs concepteurs via des présentations techniques de haut niveau.
www.rohde-schwarz.com
Lors de l’édition 2025 du RF Testing Innovations Forum, qui se tiendra les 20 et 21 mai 2025, les ingénieurs concepteurs pourront acquérir de précieuses connaissances sur les dernières avancées en matière de méthodologies et de technologies de test RF. Animé par des experts de Rohde & Schwarz et des partenaires industriels, cet événement explorera pendant deux jours les facteurs critiques qui devraient façonner l'avenir des tests RF.
Principales thématiques de la première session
La première journée de cet événement accessible en ligne traitera des sujets tels que la manière d'améliorer la précision des analyseurs de réseaux vectoriels non-linéaires à ondes millimétriques, qui sont utilisés pour surveiller la distorsion harmonique, l'intermodulation et d'autres effets non-linéaires susceptibles d'influencer les performances des systèmes opérant dans le domaine des ondes millimétriques.
Les participants découvriront des approches novatrices en matière de technique load pull modulée à large bande, y compris la manière d'aborder les habituelles limitations. Cette nouvelle approche de test de frontaux RF met en œuvre un oscilloscope de la gamme R&S RTP et un générateur de signaux vectoriels à large bande de la famille R&S SMW200A. Les experts souligneront ensuite l'importance d'obtenir des niveaux de test stables et précis à l'aide d'une commande de puissance en boucle fermée. Ils aborderont notamment les formes de signaux mises en œuvre, l'instrumentation de test requise et les éléments à prendre en compte pour obtenir les meilleurs résultats.
Deux autres présentations seront proposées avant la clôture de la première session à 13 heures. Une présentation explorera les techniques load pull pour les composants de prochaine génération opérant aux fréquences sub-THz. La suivante expliquera comment caractériser les composants RF actifs à large bande en utilisant des signaux de stimulation issus du monde réel. Elle exposera notamment comment l'utilisation d'un signal entièrement modulé peut accélérer l’ensemble du processus de test, en délivrant des informations détaillées en ne réalisant qu’une seule mesure.
Principales thématiques de la seconde session
La deuxième journée débutera par une intervention explorant l'évolution des analyseurs de réseaux vectoriels, qui prend en compte la demande croissante en matière de solutions de test qui doivent gagner en rapidité et en précision, tout en restant disponibles à un prix abordable. Les composants RF deviennent de plus en plus sophistiqués, intègrent davantage de fonctions et offrent des performances ainsi qu’une couverture de fréquence inédites. Ce qui pose de nouveaux défis aux ingénieurs concepteurs RF.
Cette présentation sera suivie d'un exposé sur les défis posés par la caractérisation des harmoniques de filtre à ondes acoustiques de volume (BAW), en particulier pour obtenir des mesures précises et minimiser les distorsions. Le conférencier expliquera comment utiliser une technique avancée de sondage pour caractériser la performance de la deuxième harmonique (H2) des filtres BAW.
La présentation suivante portera sur la manière d'accélérer le processus d'analyse et de simulation des diagrammes d'antenne à l'aide du logiciel MATLAB®. L'accent sera mis sur la construction de l’ensemble du diagramme de rayonnement 3D à partir d'un sous-ensemble de mesures de diagramme 2D à l'aide de méthodes analytiques et de techniques d'intelligence artificielle. Les participants découvriront également comment intégrer les données mesurées dans un modèle de simulation au niveau du système pour les dispositifs de communications sans fil et les systèmes radars. Un exposé sur l'optimisation de l'acquisition d'ensembles de données pour les antennes électroniquement orientables contrôlées par l'IA sera également proposé avant la pause.
L’édition 2025 du RF Testing Innovations Forum s’achèvera par une présentation des techniques de mesure avancées dans le domaine des radios à ultra-large bande définies par logiciel et un exposé du rôle que peut jouer l’analyseur de réseau vectoriel de la gamme R&S ZNB3000 sur les lignes de production de frontaux RF (RFFE).
Pour en savoir plus sur cet événement virtuel, accessible gratuitement, et vous inscrire aux sessions, visitez la page Internet
www.rohde-schwarz.com
